Свыше 15 производителей из ОЭЗ «Технополис Москва» на международной выставке электроники ExpoElectronica представят свои передовые разработки, которые, в том числе, призваны заместить в России импортные аналоги. Об этом сообщил Министр Правительства Москвы, руководитель Департамента инвестиционной и промышленной политики Анатолий Гарбузов, по данным пресс-службы ОЭЗ «Технополис Москва».
«В Москве успешно работают свыше 370 производителей силовой и микроэлектроники, вычислительных машин, мониторов, оптических изделий. При поддержке города за первые два месяца этого года эти предприятия нарастили объемы выпуска стратегически важной продукции на 7%. Вклад в развитие этой отрасли вносят также компании ОЭЗ «Технополис Москва». В ОЭЗ столицы передовую радиоэлектронную продукцию выпускают около 40 компаний-резидентов. Участие в подобных выставках позволяет производителям налаживать сотрудничество и выводить на рынок совместные прорывные решения, а также расширять границы географического присутствия», – отметил Анатолий Гарбузов.
Так, резидент столичной ОЭЗ – компания «Микрон», – презентует электронную компонентную базу, созданную в рамках проекта «Энергетика-ЭКБ», первый российский микроконтроллер MIK32 Амур и демо-кейсы по его применению, импортозамещающую ЭКБ для автоэлектроники и телекома.
Другой резидент – компания НИИМЭ – впервые выставит собственную физико-химическую аналитическую лабораторию (ФХАЛ). Это первая в России, странах СНГ и Восточной Европы лаборатория исследований сверхчистых технологических сред, используемых в производстве. Одним из ключевых и сложных материалов, созданных компетенциями ФХАЛ, является первый отечественный фоторезист для производства микроэлектронных компонентов по технологии 90нм.
Также среди экспонатов будет презентован новый томограф, разработанный компанией-резидентом «Диагностика-М». Оборудование предназначено для проверки качества монтажа изделий микроэлектроники, включая процессоры и установка контроля радиационной загрязненности персонала. Новинка способна осуществлять контроль электронных компонентов и выявлять широкий спектр дефектов.